Все
Морфология Дифракция Микроскопия Калориметрия и термический анализ Хроматография НИЛ термохимии Масс-спектрометрия НИЛ адсорбции и катализа Спектроскопия
позволяет проводить исследования с высоким разрешением, доступны: функция томографии, температурные и дифракционные исследования, подготовка проб...
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEOL JEM-2100F/Cs/GIF
позволяет проводить исследования с высоким разрешением, доступны: функция томографии, температурные и дифракционные исследования, подготовка проб (кроме ламелей).
