Все
Морфология Дифракция Микроскопия Хроматография Калориметрия и термический анализ Масс-спектрометрия НИЛ адсорбции и катализа НИЛ термохимии Спектроскопия
позволяет проводить исследования с высоким разрешением, доступны: функция томографии, температурные и дифракционные исследования, подготовка проб...
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEOL JEM-2100F/Cs/GIF
позволяет проводить исследования с высоким разрешением, доступны: функция томографии, температурные и дифракционные исследования, подготовка проб (кроме ламелей).
